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E7家族RAS创新内存故障预测
信息来源:   发布时间:2015-8-23   浏览:

由英特尔主办的全球IT界高水平的技术论坛活动——2012英特尔信息技术峰会(Intel Developer Forum, IDF),将于4月11至12日在北京国家会议中心举行。本届IDF以“未来在我‘芯’”为主题,前瞻IT产业的发展与计算体验的变革,共迎个性化计算时代的到来。

IDF2012:E7家族RAS创新内存故障预测

IT168将为您做全程会议报到。在这里您将了解到Intel最前沿的技术和最新的产品。下面为您介绍的就是此次IDF峰会的一场技术课程:英特尔至强处理器 E7 产品家族 RAS 创新 – 内存预测故障分析。

本技术课程的演讲专家为Anil Agrawal,RAS技术专家;龚毅敏,关键任务解决方案架构师。

IDF2012:E7家族RAS创新内存故障预测

首先来介绍一下至强E7处理器。英特尔至强E7系列处理器分为8800、4800、2800三大系列,分别针对8路、4路和双路的高端市场。至强E7以英特尔上一代至强7500为基础,建立了面向诸多高端计算应用,包括商业智能、实时数据分析和虚拟化的全新标准。这些全新的处理器还提供高级安全特性,可确保更好的数据完整性,以巩固数据中心的安全防线。由于采用了领先的32纳米芯片制程工艺,以及最多可集成10个支持英特尔超线程技术的内核,E7相比英特尔至强7500系列处理器,其性能提升最多可达40%。

IDF2012:E7家族RAS创新内存故障预测

RAS:RAS是Reliability(可靠性), Availability(可用性)和Serviceability(可维护性)的缩写,是电脑硬件工程上的术语,最初来自IBM公司为其大型主机所做的宣传广告,强调大型主机系统的坚韧强固:稳定性、可用性、可维护性。

如今这个概念已广为人知,并被延伸到广域的企业应用领域,成为评估企业业务系统稳定可靠方面的一项指标。尤其在关键任务领域,往往要求具有高度的可靠性和灾难恢复功能,业务支撑系统一旦出现故障,或者停止运行,那么所带来的损失是非常巨大的。

IDF2012:E7家族RAS创新内存故障预测

基于英特尔至强E7的产品家族,其PFA(预测故障分析)的动机就是最小化宕机时间。其关键任务目标是最小化非计划宕机时间。


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